Akademisyen. Boğaziçi Üniversitesi Mühendislik Fakültesi, Bilgisayar Mühendisliği öğretim üyesi.
Prof. Dr. Mehmet Alper Şen, Boğaziçi Üniversitesi Mühendislik Fakültesi, Bilgisayar Mühendisliği bünyesinde görev yapmaktadır. Çalışma alanları: Bilgisayar Bilimleri, Mühendislik ve Teknoloji.
Lisans (Orta Doğu Teknik Üniversitesi, 1995), yüksek lisans (Orta Doğu Teknik Üniversitesi, 1997) ve doktora (University of Texas at Austin, 2004) eğitimlerini tamamladı. Doktora tezi: "Techniques for Formal Verification of Concurrent and Distributed Program Traces" (2004).
Akademik kayıtlara göre 100 bilimsel yayını bulunmaktadır. Uluslararası yayın dizinlerinde 6 yayını kayıtlıdır.
SEÇİLMİŞ YAYINLARI: "DeepFault: Fault Localization for Deep Neural Networks" (Lecture Notes in Computer Science, 2019); "MINIME: Pattern-Aware Multicore Benchmark Synthesizer" (IEEE Transactions on Computers, 2015); "Bug Prediction of SystemC Models Using Machine Learning" (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 2019); "TCM: Test Case Mutation to Improve Crash Detection in Android" (Lecture Notes in Computer Science, 2018); "Virtualization of stateful services via machine learning" (Software Quality Journal, 2019).
KAYNAKÇA: Prof. Dr. Mehmet Alper Şen akademik profili (avesis.bogazici.edu.tr, 16.09.2026), ORCID kaydı 0000-0002-5508-6484 (orcid.org, 16.09.2026), Crossref yayın kayıtları (crossref.org, 16.09.2026).
Akademisyen. Boğaziçi Üniversitesi Mühendislik Fakültesi, Bilgisayar Mühendisliği öğretim üyesi.
Prof. Dr. Mehmet Alper Şen, Boğaziçi Üniversitesi Mühendislik Fakültesi, Bilgisayar Mühendisliği bünyesinde görev yapmaktadır. Çalışma alanları: Bilgisayar Bilimleri, Mühendislik ve Teknoloji.
Lisans (Orta Doğu Teknik Üniversitesi, 1995), yüksek lisans (Orta Doğu Teknik Üniversitesi, 1997) ve doktora (University of Texas at Austin, 2004) eğitimlerini tamamladı. Doktora tezi: "Techniques for Formal Verification of Concurrent and Distributed Program Traces" (2004).
Akademik kayıtlara göre 100 bilimsel yayını bulunmaktadır. Uluslararası yayın dizinlerinde 6 yayını kayıtlıdır.
SEÇİLMİŞ YAYINLARI: "DeepFault: Fault Localization for Deep Neural Networks" (Lecture Notes in Computer Science, 2019); "MINIME: Pattern-Aware Multicore Benchmark Synthesizer" (IEEE Transactions on Computers, 2015); "Bug Prediction of SystemC Models Using Machine Learning" (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 2019); "TCM: Test Case Mutation to Improve Crash Detection in Android" (Lecture Notes in Computer Science, 2018); "Virtualization of stateful services via machine learning" (Software Quality Journal, 2019).
KAYNAKÇA: Prof. Dr. Mehmet Alper Şen akademik profili (avesis.bogazici.edu.tr, 16.09.2026), ORCID kaydı 0000-0002-5508-6484 (orcid.org, 16.09.2026), Crossref yayın kayıtları (crossref.org, 16.09.2026).